國儀量子電鏡-拉曼聯(lián)用解決方案通過(guò)光路優(yōu)化與系統集成兩種方式，在同一平臺完成微區定位、形貌觀(guān)測與拉曼檢測，徹底解決傳統跨設備分析中的定位誤差問(wèn)題。用戶(hù)可在SEM圖像中精準鎖定目標區域（如缺陷、界面、納米顆粒），直接激發(fā)拉曼激光，同步獲取成分、物相、應力分布等化學(xué)結構信息，實(shí)現“所見(jiàn)即所析"。

系統支持廣泛材料類(lèi)型，涵蓋半導體、地質(zhì)樣品、二維材料、生物組織等，應用于失效分析、工藝優(yōu)化、科學(xué)研究等多個(gè)領(lǐng)域。無(wú)論是SEM-Raman一體化，還是SEM+Raman軟聯(lián)用配置，均具備高靈活性、高兼容性與強大數據處理能力。

國儀量子電鏡-拉曼聯(lián)用系統，助力用戶(hù)突破表征維度限制，看見(jiàn)更多、解析更深。