國儀量子電鏡解決方案部經(jīng)理鄭健萍介紹，SEM5000X蠕變電鏡系統不僅是臺高分辨的電鏡，還是一套先進(jìn)的材料研究平臺。它通過(guò)“空間換時(shí)間”的方法，將傳統固定在電鏡內部的原位儀器革新到電鏡腔體之外，從而滿(mǎn)足上百小時(shí)、甚至上千小時(shí)的材料性能與微觀(guān)結構的同步實(shí)時(shí)表征。

點(diǎn)擊觀(guān)看

目前，SEM5000X蠕變電鏡系統可以實(shí)現室溫條件下的拉伸、壓縮、三點(diǎn)彎曲，以及高溫下的拉伸、蠕變等試驗，同時(shí)對材料的微觀(guān)結構進(jìn)行表征分析，也可以結合EBSD探測器，分析材料在試驗過(guò)程中的晶相、物相結構演變。也可以模擬材料在服役過(guò)程中的受力、力熱耦合場(chǎng)景、并可向蠕變腔體通入一定氣氛，模擬材料的服役環(huán)境條件。此外，這套系統還可以升級加配疲勞測試系統、低溫測試系統、電化學(xué)測試系統等，以及離子輻照模塊，滿(mǎn)足用戶(hù)多樣化的測試需求。

SEM5000X蠕變電鏡系統實(shí)現了在納米尺度下，觀(guān)察材料在高溫蠕變過(guò)程中的結構演變和環(huán)境損傷情況，實(shí)現了結構表征與性能測試的完美結合，整體性能達到國際領(lǐng)先水平。

從高溫合金的蠕變機理研究到航空發(fā)動(dòng)機關(guān)鍵部件的性能評估，從先進(jìn)納米材料的結構表征到高端芯片的研發(fā)制造，這套SEM5000X蠕變電鏡系統正在大灣區顯微科學(xué)與技術(shù)研究中心發(fā)揮著(zhù)越來(lái)越重要的作用。未來(lái)，它不僅能突破傳統材料測試的局限，更將為我國先進(jìn)結構材料的自主創(chuàng )新打下堅實(shí)基礎。