掃描電鏡中STEM透射模式的應用

　　透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV)，對于有機高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強，形成的透射像襯度低，而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV)，因此應用其STEM模式成透射像，可大大提高像的襯度。

　　有機太陽(yáng)能電池用的高分子/富勒烯薄膜(有機固體實(shí)驗室樣品)的透射電子像，在用透射電鏡觀(guān)察其分相結構時(shí)，由于兩部分襯度都低，因此幾乎無(wú)法區分，而應用掃描電鏡的STEM模式觀(guān)察時(shí)，可清楚地觀(guān)察到兩相的結構。

　　應用透射電鏡觀(guān)察生物樣品時(shí)，由于樣品的襯度很低，須經(jīng)過(guò)鈾、鉛等重金 屬染色才能獲得其結構信息，然而染色不僅麻煩而且可能會(huì )改變樣品的結構。

　　在應用掃描電鏡的STEM模式觀(guān)察生物樣品時(shí)，樣品無(wú)需染色直接觀(guān)察即可獲得較 高襯度的圖像，圖4為應用STEM模式觀(guān)察得到的未染色的生物品的電鏡圖，可以看到其納米尺度的片層結構。

　　除了可顯著(zhù)提高透射像的襯度外，應用掃描電鏡STEM成像還有一個(gè)優(yōu)勢是可對樣品同時(shí)成掃描二次電子像和透射像，既可以得到同一位置的表面形貌信息又可以得到內部結構信息，避免了在掃描電鏡和透射電鏡之間轉換樣品、定位樣品的麻煩。

　　應用掃描電鏡觀(guān)察有機螺旋納米線(xiàn)(光化學(xué)實(shí)驗室樣品)得到的二次電子像和透射像(STEM明場(chǎng)像和暗場(chǎng)像)，從二次電子像可以清楚地觀(guān)察到納米線(xiàn)的螺旋結構，從透射像可以看出納米線(xiàn)是實(shí)心結構非空心管結構。

　　總之，隨著(zhù)科學(xué)研究的深入對于物質(zhì)結構分析的要求越來(lái)越高，掃描電鏡STEM透射模式由于其襯度高、損傷小等特點(diǎn)，非常適合于有機高分子、生物等軟材料的結構分析，將在此類(lèi)材料的分析表征中發(fā)揮不可替代的作用。